验货员论坛

 找回密码
 注册
搜索
查看: 750|回复: 4
打印 上一主题 下一主题

电磁兼容家用电器、电动工具和类似器具的要求 GB4343.2-1999 抗扰度—产品类标准 (下 ...

[复制链接]
跳转到指定楼层
1#
发表于 2008-5-15 09:34:51 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式
表3直流电源输入和输出端口
环境现象
试验规定
试验配置
共模快速瞬变
0.5kV(峰值)
5/50ns Tr/Td
5kHz重复频率
按GB/T17626.4
注:不适用于由电池供电,使用时不能接到市电的器具。
应使用耦合/去耦网络来测试直流电源端口。
表4交流电源输入和输出端口
环境现象
试验规定
试验配置
共模快速瞬变
1kV(峰值)
5/50ns Tr/Td
5kHz重复频率
按GB/T17626.4
应使用耦合/去耦网络来测试交流电源端口。
5.3  注入电流0.15MHz~230 MHz

注入电流试验根据基础标准GB/T 17626.6和本标准表5~表7中的要求进行。

试验条件和试验布置,尤其是对80 MHz~230MHz的测量,应在试验报告中清楚地加以注明。

注:注入电流的频率最高可达230 MHz,与受试器具尺寸无关。

将未调制试验信号的载波调到指定的试验值。试验时,载波还需按规定进行调制。
表5信号线和控制线端口
环境现象
试验规定
试验配置
射频电流
共模
1 kHz,80%AM
0.15 MHz~230 MHz
1V(r.m.s)(未调制)
150Ω源阻抗
按GB/T17626.6
注:仅适用于与按制造商功能规范规定的总长度可超过3m的电缆连接的端口。
表6直流电源输入和输出端口
环境现象
试验规定
试验配置
射频电流
共模
1kHz,80%AM
0.15MHz~230MHz
1V(r.m.s)(未调制)
150Ω源阻抗
按GB/T17626.6
注:
1不适用于由电池供电,使用时不能接到市电的器具。
2适用于由电池供电、使用时能接到市电的器具或按制造商功能规范规定的直流电缆长度可起过3m的器具。
应使用耦合/去耦网络来测试直流电源端口。
表7交流电源输入和输出端口
环境现象
试验规定
试验配置
射频电流
共模
1kHz,80%AM
0.15MHz~230MHz
3V(r.m.s)(未调制)
150Ω源阻抗
按GB/T17626.6
应使用耦合/去耦网络来测试交流电源端口。
5.4注入电流0.15MHz~80MHz
注入电流试验根据基础标准GB/T17626.6和本标准表8~表l0中的要求进行。
将未调制试验信号的载波调到指定的试验值。试验时,载波还需按规定进行调制。
表8  信号线和控制线端口
环境现象
试验规定
试验配置
射频电流
共模
1kHz,80%AM
0.15MHz~230MHz
1V(r.m.s)(未调制)
150Ω源阻抗
按GB/T17626.6
注:仅适用于与按制造商功能规范规定的总长度可超过3m的电缆连接的端口。
表9直流电源输入和输出端口
环境现象
试验规定
试验配置
射频电流
共模
1kHz,80%AM
0.15MHz~230MHz
1V(r.m.s)(未调制)
150Ω源阻抗
按GB/T17626.6
注:不适用于由电池供电、使用时不能接到市电的器具。
应使用耦合/去耦网络来测试直流电源端口。
表10  交流电源输入、输出端口
环境现象
试验规定
试验配置
射频电流
共模
1kHz,80%AM
0.15MHz~230MHz
3V(r.m.s)(未调制)
150Ω源阻抗
按GB/T17626.6

应使用耦合/去耦网络来测试交流电源端口。
5.5  射频电磁场80 MHz~1000 MHz

射频电磁场试验根据基础标准GB/T17626.3和本标准表11中的要求进行。

将未调制试验信号的载波调到指定的试验值。试验时,载波还需按规定进行调制。
表11  外壳端口
环境现象
试验规定
试验配置
射频电磁场
1kHz,80%AM
80MHz~1000MHz
3V(r.m.s)(未调制)
按GB/T17626.3
5.6  浪涌

浪涌抗扰度试验根据基础标准GB/T17626.5和本标准表12中的要求进行。
表12  交流电源输入端口
环境现象
试验规定
试验配置
浪涌
1.2/50(8/20)μs  Tr/Td
2kV
1kV
按GB/T17626.5
依次施加5次正脉冲和5次负脉冲:
——相线之间:1kV;
——相线与零线之间:1kV;
——相线与保护地线问:2kV;
——中线与保护地线问:2kV;

对表12以外(更低)的电压不需要试验。
5#
发表于 2014-9-23 06:48:41 来自手机 | 只看该作者
谢谢分享!
4#
发表于 2008-5-26 15:01:36 | 只看该作者
謝謝樓主的無私奉獻!


謝謝!
3#
 楼主| 发表于 2008-5-15 10:01:16 | 只看该作者
8  试验条件
8.1  试验应在规定的频段内进行。器具按制造商规定,与正常使用一致、以最敏感的方式运行。

试验应在GB 4343规定的适用条件下进行。试验应在器具所规定或典型环境中以其额定电压和额定频率运行条件下进行。如果设备有不同的设定值(如速度、温度等),则应使用低于最大值的设定值,优先使用约为最大值50%的设定值。

当微波炉、烹调炉、平铁架和感应式烹调器具进行试验时,其试验负载为(1±0.5)L的自来水。对持续较长时间的试验,可中断试验以便再加水。

但应优先考虑制造商规定的试验配置、试验条件和性能指标。
8.2  必要时,应改变受试设备的配置以获得最大敏感度。如果器具与辅助设备连接,则器具应在与激活所有端口所必需的最小的辅助设备配置连接的情况下进行试验。
8.3  静电放电、电快速瞬变、浪涌及电压短时中断试验是在受试设备按所选择的每一运行方式(或作为运行方式的每一相位)下进行。
8.4  射频电磁场和注入电流试验是在扫描期间受试设备按所选择的运行方式随机地投入运行的条件下进行。此外,试验应选择5个频率点,并在所选择的运行方式下对每个频率点进行3min的试验。
8.5  对于手动选择的运行方式,试验可中断,否则应注意操作者的操作不应影响试验结果。
8.6  如果受试设备有一个自动循环程序,扫描时间应在随机位置上开始,如果单个周期比扫描时间长,扫描试验应重复进行,直至周期结束。
8.7  如果用户可使用服务程序,则应对其进行试验。
8.8  试验期间的运行设置和运行方式应仔细地记录在试验报告中。

注:应注意环境的变化,如电源的变化,不能影响试验结果。
9  合格评定
9.1  单台产品的评定

批量生产的器具应通过一台具有代表性的样机或批量生产的一台器具的型式试验来得以验证。

制造商或供应商的质量体系应确保受试样机或受试器具能代表批量生产器具。

对不是批量生产的器具,在按规定试验方法试验时,其试验程序应确保每台器具满足试验要求。

对安装在使用场所(不是在试验场地)的器具进行试验时所测得的结果只与这种安装情况有关,但不能代表任何其他安装情况。
9.2  统计评定

符合本标准器具要求的意义是:在统计基础上,保证置信度至少为80%的情况下,批量生产器具的合格率至少为80%。

当单台器具进行型式试验时,不保证其符合80%/80%的要求。

其判断依据是:在样本量n中不符合要求的器具数量不能超过c值。
n           7          14          20          26          32
c           0           1           2           3           4

如果第一次抽样结果不满足要求,则可进行第二次抽样,然后将这两次抽样结果综合起来,并检查综合结果是否满足要求。

注:一般资料,请参阅CISPR 16第9章《确定无线电骚扰限值的统计依据》。
9.3  有争议时
  在有争议的情形下,确定是否符合本标准的评定应以统计评定方法为基础。
10  产品文件
  制造商应根据要求提供技术规范,即本标准要求的试验期间或试验后可容许的EMC性能水平或下降。

评分

参与人数 1金币 +3 威望 +3 收起 理由
hunghe + 3 + 3 你太有才了

查看全部评分

2#
 楼主| 发表于 2008-5-15 09:37:58 | 只看该作者
5.7  电压暂降和短时中断

电压暂降和短时中断试验按基础标准GB/T 17626.11和本标准表13中的要求进行。
表13  交流电源输入端口
环境现象
试验电平
%U*T
持续时间
(额定频率周期)
试验配置
短时中断
0
0.5
按GB/T17626.11
电压突变在过零处产生
电压暂降
%UT
60
40
10
30
70
50
*UT是设备的额定电压。
6  性能判据

在EMC测试过程中或根据EMC测试结果制造商应根据下列性能判据提供器具的功能描述和性能判据等级,并在试验报告中注明。

性能判据A:在试验过程中器具应按预期连续运行。当器具按预期使用时,其性能降低或功能丧失不允许低于制造商规定的性能水平(或可容许的性能丧失)。如果制造商未规定最低的性能水平或可容许的性能丧失,则可从产品说明书、文件及用户按预期使用时对器具的合理期望中推断。

性能判据B:试验后器具应按预期继续运行。当器具按预期使用时,其性能降低或功能丧失不允许低于制造商规定的性能水平(或可容许的性能丧失)。在试验过程中,性能下降是允许的,但不允许实际运行状态或存贮数据有所改变。如果制造商末规定最低的性能水平或可容许的性能丧失,则可从产品说明书、文件及用户按预期使用时对器具的合理期望中推断。

性能判据C:允许出现暂时的功能丧失,只要这种功能可自行恢复,或者是通过操作控制器或按使用说明书规定进行操作来恢复。

表14是用来制定受试器具因电磁应力引起的可容许降低导则。并非器具所有功能都需要进行试验,功能的选择和规定及可容许降低由制造商给出。
表14器具性能降低举例
功能(未详尽列出)
性能判据
A
B2)
C13)
C23)
电机转速
10%1)
+
转矩
10%1)
+
位移
10%1)
+
功率(消耗功率、输入功率)
10%1)
+
开关(状态改变)
+
发热
10%1)
+
定时(程序、延时、负载周期)
10%1)
+
待机状态
4)
数据储存
5)
5)
感应器功能(信号传递)
6)
7)
指示器(视觉和听觉)
6)
7)
音频功能
6)
7)
照明
6)
7)
—不允许改变。
十允许改变。
1)不包括测量精度值。
2)对性能判据B,测量或验证是在所述现象施加前和之后受试设备达到稳定运行条件时进行。
3)性能判据C可分为C1:复位前和C2:复位后。
4)只许断开,不许接通。
5)允许数据丢失或改变。
6)允许控制造商规定的较低性能指标,但不允许正常功能丧失。
7)允许正常功能丧失。
7  抗扰度试验的适用性
7.1  总则
7.1.1  本标准范围内的器具,其抗扰度试验在第5章中已按每个端口逐一给出,并对每个端口的试验给出了具体的规定。

根据以上表1~表13,所有试验都适用于器具的相应端口。

试验应在器具正常运行期间易受影响的那些端口上进行。

试验应以单个试验依次逐项进行,但其顺序是随意的。

试验描述、试验发生器、试验方法和试验配置均由表中提及并由GB/T17626系列基础标准给出,这些基础标准内容在此不再赘述,但是对试验实际应用所需的修改或附加信息由本标准给出。
7.1.2  根据特定设备的电气特性和用途可以判定某些试验是不需要做的,对这种情况应在试验报告中注明。
7.1.3  教育用或游戏用的试验性设备及其配套设备,无论它们属于哪一类型,均认为它们能满足抗扰度要求,不需进行试验。
7.2  不同类型器具的试验应用
7.2.1  Ⅰ类

该类型器具被认为能满足抗扰度要求,不需测试。
7.2.2  Ⅱ类

该类器具应满足下列要求:

——静电放电的性能判据B(5.1);

——电快速瞬变的性能判据B(5.2);

——最高为230 MHz的注入电流的性能判据A(5.3);

——浪涌的性能判据B(5.6);

——电压暂降和短时中断的性能判据C(5.7);
7.2.3  Ⅲ类

该类器具应满足下列要求:

——静电放电的性能判据B(5.1);

——电快速瞬变的性能判据B(5.2);

——最高为230 MHz的注入电流的性能判据A(5.3)。
7.2.4  Ⅳ类

该类器具应满足下列要求:

——静电放电的性能判据B(5.1);

——电快速瞬变的性能判据B(5.2);

——最高为80MHz的注入电流的性能判据A(5.4);

——射频电磁场的性能判据A(5.5);

——浪涌的性能判据B(5.6);

——电压暂降和短时中断的性能判据C(5.7)。
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

小黑屋|手机版|Archiver|外贸验货员网

GMT+8, 2025-11-4 22:21 , Processed in 0.058838 second(s), 19 queries , Gzip On.

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回复 返回顶部 返回列表