UL 耐压测试

magebao · 发表于 2012-1-27 14:46:08

谁能翻译一下：
The test voltage was applied between live parts and accessible dead metal parts that could be energized from within the device.

主要是不明白：could be energized from within the device

mdjljqmcy · 发表于 2012-1-27 14:46:13

此高压是施于介于带电部位及可触及到的不带电外壳(金属), 而(that could be energized from within the device) 意指着工程评估, 是要工程判断那一个部位会因产品碰及带电部位, 进而造成将不带电的外壳(金属)部位变成带电部位.

magebao · 发表于 2012-1-27 14:46:19

原文 :
此高压是施于介于带电部位及可触及到的不带电外壳(金属), 而(that could be energized from within the device) 意指着工程评估, 是要工程判断那一个部位会因产品碰及带电部位, 进而造成将不带电的外壳(金属)部位变成带电部位.

"要工程判断那一个部位会因产品碰及带电部位, 进而造成将不带电的外壳(金属)部位变成带电部位."
这个操作起来很困难的，现实中可能只要是金属外壳就按照这个来打耐压。

qing1234 · 发表于 2012-1-27 14:46:25

could be energized from within the device的理解是指产品本身有可能造成带电的，而不是由其他产品的带电体碰到这个壳而造成带电的。

magebao · 发表于 2012-1-27 14:46:31

原文 :
could be energized from within the device的理解是指产品本身有可能造成带电的，而不是由其他产品的带电体碰到这个壳而造成带电的。

关键是怎样判断这个“可能”到底有没有可能

qing1234 · 发表于 2012-1-27 14:46:37

“可能”考虑两点，一、电线破损造成的；二、电线散落造成

mdjljqmcy · 发表于 2012-1-27 14:46:43

原文 :
“可能”考虑两点，一、电线破损造成的；二、电线散落造成

还得加上, 应使用或安装造成的距离, 应其它因素造成损坏造成直接接触…等因子, 但总总考虑还是在”正常使用下”, 且不脱离single fault的精神前提下

你所额抵抗 · 发表于 2012-1-27 14:46:49

好像基本绝缘都可以看做有可能受到破坏的，所有算“可能”范围内。

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