LCD来料检验规范

future8411

General Work Instruction
作 业 指引
LCD来料检验规范
1.0  范围
      本规范适的模块：
         LCD来料抽样检验；
2.0  抽样方案
       按GB/T 2828.1-2003 一般II级检查水平正常抽样方案；
分 类        轻微        严重
AQL        1.0        0.65
       说明：当轻微缺陷和严重缺陷都没有超过拒收数量时，按照轻缺陷加上严重缺陷的总数作为轻微缺陷于以判定,即轻微严重缺陷之和是否超出或等于轻微缺陷拒收标准数量来判定.
3.0  检验条件
3.1 外观检查
        须在2只20W的日光灯下,光源离LCD:30－50CM,目视距离30CM检验;检验时间≤10秒。
        透射型的LCD检验时,可借助相应的背光源或反光板;
        可借助游标卡尺、目测镜及点、线菲林进行判断.
3.2 功能检查
    3.2.1  按《产品制造规格表》之要求设定电测参数进行功能测试;
    3.2.2  按《产品制造规格表》进行检测.
3.3 计量单位
    在此检查规范内,没有特别说明,使用单位均为mm.

4.0  适用区域的定义
          4.1  A区表示显示区(字符显示区)
                B区表示可视区(除A区)
  C区表示非可视区(装配后不能观察到的区域)
4.2  各区尺寸是参照每型号的规格图.

5.0  缺陷定义
缺陷定义        定      义        内        容
严重缺陷        影响产品显示功能缺陷        短路、断路、显示错、异常、不显示、
        影响产品装配的缺陷        产品装配尺寸不符等
轻微缺陷        不影响产品功能,但对产品外观有影响        反黑/反白点、崩角、划伤、偏光片缺陷、FPC/TAB/PCB外观缺陷、针孔、污点等
        缺陷类型参照下表所示
文 件 编 号                编 印 日 期        2003-11-18
版 本 编 号        A1        页       数        第1页，共11页