标题: 请教:异常测试时,元器件短路开路问题。 [打印本页] 作者: hxjiif 时间: 2012-1-25 23:30 标题: 请教:异常测试时,元器件短路开路问题。 IEC 62560, IEC 60968中有关异常状态测试时,标准中有这么句话:
Opening or bridging (other) points in the circuit where the diagram indicates that such a
fault condition may impair safety.
断开或跨接线路中的(其它)点,而线路图中表明这种异常状态可能降低灯的安全性。